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Ci4200色差檢測儀UV增加了自校準UV照明功能，以便評估熒光增白劑和熒光劑在不同照明條件下對色彩變化所產生的影響。

蔡司GeminiSEM可助您輕松實現(xiàn)亞納米級分辨率的成像。出色的成像和分析技術更使FE-SEM（場發(fā)射掃描電子顯微鏡）如虎添翼。我們采用創(chuàng)新的電子光學系統(tǒng)和全新樣品倉設計，不僅操作更加簡便，用途更加靈活多樣，還可為您帶來更高的圖像質量。無需水浸物鏡即可拍攝低于1 kV的亞納米級圖像。

蔡司Sigma系列產品集場發(fā)射掃描電子顯微鏡（FE-SEM）技術與良好的用戶體驗于一體，可輕松實現(xiàn)成像和分析程序，提高工作效率。 您可以將其用于新材料和顆粒的質量監(jiān)測，或用于生物和地質樣品的研究。在高分辨率成像方面精益求精——采用低電壓，在1 kV或更低電壓下獲得更佳的分辨率和襯度。它出色的EDS幾何學設計可執(zhí)行高級顯微分析，以兩倍的速度和更高的精度獲取分析數(shù)據(jù)。

充分運用多達91條并行電子束的采集速度，用納米分辨率對厘米級樣品進行成像。這款掃描電子顯微鏡設計用于全天候連續(xù)、可靠的運行。只需簡單設置高通量數(shù)據(jù)采集工作流，MultiSEM便能自動完成高襯度圖像采集。

EVO系列結合高性能掃描電子顯微鏡，為顯微鏡專家和新用戶帶來直觀且易操作的使用體驗。憑借豐富的選件，無論是在生命科學、材料科學，或是在日常工業(yè)質量保證和失效分析領域，EVO均可根據(jù)您的需求量身定制。

電子比色儀 (EComparator) 系列在色度測量方面更進一步，方便您將目視（主觀）數(shù)據(jù)轉換成電子（客觀）數(shù)據(jù)。使用電子比色儀系列，您現(xiàn)在可以同時通過屏幕色彩顯示和屏幕數(shù)字顯示觀察色差。